以資料為基礎、AI 為核心、自動化為動力，打造新一代智慧工廠
從資料採集、邊緣運算到 AI 分析，打造全方位的智慧製造生態系統
Testing Production System (WAT/CP/FT) 與車用生產品質管制 (PAT)，涵蓋封測廠 90% 以上功能。
邊緣運算即時監控系統，將資料處理移至設備端，實現毫秒級即時反應。
機台參數分析與預知保養系統，提供 Rule-Based 異常監控與預測性維護。
整合 Auto Loader、DC 與 PMI 的生產自動化解決方案，減少人工操作。
AI 智慧針痕檢測系統，採用深度學習技術自動判定探針針痕品質。
根據客戶需求提供客製化整合方案，從 CP 到 FT 全製程覆蓋。
協助半導體封測廠實現從被動檢測到主動預防的智慧化轉型
完整的晶圓電性測試資料管理，支援多種測試機台格式，自動化資料收集與分析，實現 WAT/CP 全製程監控。
後段封裝測試生產追蹤，包含 Site 狀態監控、雙頭測試平衡、溫控參數比對，支援車用品質標準。